ZYGO 4104C 控制器产品介绍

ZYGO 4104C 是一款高精度、多功能的位移测量与光学表面测量设备，融合了干涉仪技术与先进的光学探测系统，可实现纳米级精度的位移测量和光学表面形貌分析，广泛应用于工业制造、航空航天、科研等对测量精度要求极高的领域。以下从核心功能、技术参数、典型应用及产品优势等方面进行介绍：

核心功能

• 高精度位移测量：基于干涉仪技术，ZYGO 4104C 在设计波长下可实现纳米级精度的位移测量，适用于需要精确控制物体位移的场景，如精密加工、光学元件装配等。
• 光学表面形貌分析：利用 HeNe 激光器作为光源，结合高灵敏 CCD 相机，可测量光学元件的表面形貌和表面质量，测量范围覆盖 0.1nm 至 6.5mm，精度达 0.01nm。
• 宽工作波长范围：支持 NIR（近红外）、SWIR（短波红外）和 MWIR（中波红外）等多个波段，适应不同红外成像应用需求。
• 振动不敏感测量：配备 DynaPhase™ 瞬时数据采集技术和 QPSI™ 采集技术，对振动不敏感，可在恶劣环境下实现可靠测量。
• 易于集成与配置：提供标准通信接口和配置软件，支持快速集成到现有测试系统和组件中，简化设置流程，提高工作效率。

技术参数

• 测量范围：0.1nm 至 6.5mm（光学表面测量），位移测量精度根据干涉仪配置可达亚纳米级。
• 光源：HeNe 激光器（632.8nm），用于光学表面测量。
• 探测器：高灵敏 CCD 相机，确保测量数据准确性。
• 工作温度与湿度：光学测量模块工作温度为 15℃ 至 30℃，湿度为 20% 至 80%；位移测量模块根据具体型号有所不同。
• 通信接口：支持标准通信协议，便于与 PLC、DCS 等控制系统连接。
• 显示与操作：配备直观的操作界面和显示设备，支持实时数据监控与分析。

典型应用场景

• 精密制造：用于半导体加工、光学元件制造等领域的精密位移控制与表面质量检测。
• 航空航天：在航空发动机叶片、卫星光学元件等高精度部件的制造与检测中发挥关键作用。
• 科研实验：支持材料科学、生物医学等领域的纳米级位移测量与光学表面分析实验。
• 工业自动化：集成到自动化生产线中，实现高精度位移控制与实时质量监控。

产品优势

• 高精度与稳定性：采用干涉仪技术和先进光学探测系统，确保测量结果的高精度与长期稳定性。
• 宽适应性：支持多波长范围与振动不敏感测量，适应不同工业环境与应用需求。
• 易用性与集成性：提供标准通信接口与配置软件，简化系统集成与操作流程，降低使用门槛。
• 高可靠性：经过严格测试与验证，确保在恶劣工业环境下的长期稳定运行。